链接到页内

產品介紹

可靠性資訊

半導體可靠性手冊

No. BDE0128C (2007年8月)

點擊每一章節標題查看具體文檔。

[1] 東芝品質和可靠性體系 (PDF:315KB)
  1. 東芝半導體品質和可靠性
  2. 文檔管理
  3. 教育和培訓
  4. 技術規格和品質保證協定协议
  5. 從產品開發到設計過程中的品質和可靠性
  6. 零部件、材料和加工委託管理
  7. 生產過程管理
  8. 識別和可追蹤性
  9. 測量控制
  10. 品質服務活動
  11. 品質監察
  12. 產品的出貨品質保證
  13. 出貨檢查後的產品管理
  14. 異常時的處置體制
  15. 統計性品質管制
  16. 投訴服務
[2] 半導體的可靠性 (PDF:763KB)
  1. 可靠性的基本理念
  2. 影響可靠性的因素
  3. 故障機制
[3] 可靠性測試 (PDF:580KB)
  1. 什麼是可靠性測試
  2. 加速後的終身測試
  3. 故障率測試的方法
  4. 可靠性測試的詳細應用方法
[4] 故障分析和可靠性提高 (PDF:3,551KB)
  1. 故障分析的意義
  2. 故障分析中使用的裝置
  3. 故障分析程式
  4. 故障分析事例
  5. 故障分析和可靠性提高方法
[5]使用上的注意事項和要求 (PDF:544KB)
  1. 使用半導體產品時的注意事項
  2. 安全方面的注意事項
  3. 一般的安全注意事項以及使用上的注意事項
  4. 各產品群特有的注意事項以及使用上的注意事項
[6] 附錄 (PDF:289KB)
  1. 抽樣檢查
  2. 可靠性估算
  3. 減額法的概念和方法

回到页首