東芝半導體與存儲器社
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超小型光控繼電器: TLP3312

適用於自動試驗設備(ATE)、或尺寸要求較高的電氣設備或電池操作應用。

超小型光控繼電器產品照片: TLP3312.

自動試驗設備(ATE)用於半導體元件的生產試驗。為提高試驗效率,ATE 包含用於每次測量日益增加的更大數量的管腳和組件數量的附加功能。為處理這種情況,試驗板配備越來越多的開關用於選擇將要測量的信號。然而另一方面,由於市場要求降低 ATE 尺寸和成本,製造商們無法承擔試驗板尺寸增加的成本。從而刺激了對於更小開關的需求。由於光控繼電器與機械繼電器相比更小、更快、更可靠,它們已廣泛用於 ATE 應用。超小型 TLP3312 光控繼電器經過特別設計以滿足更多尺寸減小的需要。

與封裝在 SSOP4 封裝中的先驅 TLP3212 相比,TLP3312 使用更低的 LED 觸發電流進行開關操作並提供更快的接通和斷開時間。TLP3312 封裝在 SSOP4 封裝中,SSOP4 封裝是用於東芝光控繼電器的最小封裝。與 SSOP4 封裝相比,USOP4 封裝將試驗板空間要求降低約 25%,因此可理想地用於高密度試驗板元件。TLP3312 提供良好的電壓/電流平衡,包括 60V處於斷路狀態的電壓和 0.4A處於接通狀態的電流,使其成為不僅適用于 ATE 應用而且同樣適用於取決於尺寸的通用電氣設備的理想解決方案。

應用

ATE、或尺寸要求較高的電氣設備、電池操作應用。

特徵

主要規格

與當前的 TLP3212 和 TLP172A 相比,超小型光控繼電器 TLP3312 的主要規格
參數 符號 單位 器件型號
TLP3312 TLP3212 TLP172A
封裝 - - USOP4 SSOP4 2.54SOP4
關斷電壓(最小值) VOFF V 60 60 60
導通電流(最大值) ION A 0.4 0.4 0.4
導通電阻(最大值) RON Ω 1.5 1.5 2
LED 觸發電流(最大值) IFT mA 3 5 3
關斷電流(最大值) IOFF nA 1 1000 1000
接通時間(最大值) tON ms 0.5 1 2
斷開時間(最大值) tOFF ms 0.5 1 0.5
隔離電壓(最小值) Bvs Vrms 500 1500 1500

USOP4封裝

USOP4超小型光控繼電器封裝說明圖: TLP3312.

封裝尺寸比較

超小型光控繼電器封裝尺寸比較說明圖: TLP3312.

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